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詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,電子/電池,電氣 |
日本電子JSM-IT810掃描電子顯微鏡
利用自動化技術，提高了從儀器調試到觀測分析的操作效率！
JSM-IT810系列FE-SEM結合多功能性和高空間分辨率，實現了自動化操作。內置無需編碼的成像和EDS分析自動化功能，使工作流程更加流暢高效。 此外，還新增了一些功能，確保所有SEM用戶獲得高質量數據和更好的用戶體驗。 這些功能包括SEM自動調整包、梯形校正功能（在EBSD測試中非常有用）、以及用于觀察表面形貌的Live 3D重構功能。
FE-SEM的操作從沒有像JSM-IT810系列這么簡單。
日本電子JSM-IT810掃描電子顯微鏡
主要特點
自動觀察分析功能“Neo Action"
智能操作，自動執行SEM觀測和能譜分析(EDS)
Sample: Chondrules in chondrite Julesberg (L3.6)，Landing Voltage: 5 kV
自動校準功能“SEM自動調整包"
用標樣來進行自動倍率調整、電子束對中和EDS能量校準。定期檢查確保設備處于最佳狀態。
實時3D功能
5段半導體型探測器可以選擇背散射電子信號。從外側4段獲取的二維圖像可用于三維圖像重構。
全新的Live-3D功能可實時測量和檢查樣品的拓撲結構。
一體化EDS
一體化EDS集成消除了SEM觀察與EDS元素分析之間的障礙。觀察屏幕上有點、面、線、和MAP等各種分析模式，可以立刻進行分析。
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