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詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,電子/電池,電氣 |
日本電子JEM-2100Plus透射電子顯微鏡
JEM-2100Plus電子顯微鏡，不僅擁有信譽的JEM-2100 的電子光學系統，還增加了最新的控制系統，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能，操作方便，簡明易懂，能在材料、醫學、生物學等多個研究領域提供優異的解決方案。
日本電子JEM-2100Plus透射電子顯微鏡主要特點
操作性改進
最新操作軟件“TEM Center" 可在64位版本Windows®上運行，簡明易懂，適合初學者使用。
功能高度整合
通過整合TEM Center 和高清CCD相機（選配）及掃描透射圖像（BF/DF 像）觀察功能（選配），在TEM Center 圖形用戶界面上操作，更加簡單直觀。
豐富的用戶輔助功能
擁有豐富的用戶輔助功能（自動聚焦、自動襯度/亮度、自動曝光、自動圖像拼接、漂移校正、樣品臺導航功能等）。
圖像瀏覽／編輯軟件
使用Viewer 軟件可以離線瀏覽／編輯圖像。
*Windows 為美國微軟公司的注冊商標。
EDS 應用圖片
碳粉顆粒 （蘭和紅） @200kV，256 x 256 pixel
碳粉顆粒 （蘭和黑） @200kV，256 x 256 pixel
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