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簡要描述：鼎陽SMM3312X精密源表主要特性6½ 顯示位數(shù)（2,100,000 count）100,000 points/s最大采集速率10fA / 100nV最小編程及測量分辨率±210V / ±3A(DC) /±10.5A(pulsed) 最大輸出支持直流、脈沖、掃描及列表輸出，最小脈寬50μs5英寸觸摸屏，支持圖形和數(shù)字視圖
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2025-02-19訪 問 量：658產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣 |
鼎陽SMM3312X精密源表
此系列產(chǎn)品具備6?顯示位數(shù)，高達(dá)±210V直流電壓、±3.03A直流電流、±10.5A脈沖電流輸出，最小10fA/100nV編程及測量分辨率，最大采集速率100,000 points/s。支持四象限操作，能夠同時(shí)采集和測量信號，實(shí)現(xiàn)對DUT的源-測量循環(huán)。既可作為恒壓源、恒流源、電壓表、電流表和歐姆表，還可以作為脈沖發(fā)生器、波形發(fā)生器，是測試半導(dǎo)體和其他非線性設(shè)備和材料的理想選擇。
SMM3000X 系列是精確的源/測量單元（SMU）儀器，可同時(shí)輸出并測量電壓和電流，集成了電流源、電壓源、電壓表、電流表功能，特別適合半導(dǎo)體特征分析，納米級器件和材料，有機(jī)半導(dǎo)體等測試應(yīng)用。
6? 顯示位數(shù)（2,100,000 count）
100,000 points/s最大采集速率
10fA / 100nV最小編程及測量分辨率
±210V / ±3A(DC) /±10.5A(pulsed) 最大輸出
支持直流、脈沖、掃描及列表輸出，最小脈寬50μs
5英寸觸摸屏，支持圖形和數(shù)字視圖
高精度脈沖模擬
脈沖模式下，SMM3000X系列支持±10.5A的脈沖電流輸出，最小脈寬可達(dá)50μs，能夠精準(zhǔn)模擬功率器件的瞬態(tài)工況，如GaN（氮化鎵）、SiC（碳化硅）器件的開關(guān)損耗測試等，為功率半導(dǎo)體器件的研發(fā)和測試提供了強(qiáng)有力的支持。
線性/對數(shù)掃描
SMM3000X系列支持線性/對數(shù)/脈沖掃描，可根據(jù)用戶預(yù)設(shè)的起始點(diǎn)至終止點(diǎn)，以固定的步進(jìn)值逐點(diǎn)輸出電壓或電流，同時(shí)自動(dòng)測量并記錄每個(gè)點(diǎn)的值。用戶可以快速地驗(yàn)證二極管、晶體管等半導(dǎo)體器件在不同工作點(diǎn)下的特性，獲取其導(dǎo)通特性曲線，對器件進(jìn)行性能分析。
靈活自定義序列
列表模式支持用戶自定義輸出序列，最小間隔可達(dá)10μs，參數(shù)變化可以是線性的，也可以是非線性的，甚至是任意值或自定義順序。SMM3000X按照列表中設(shè)定的值依次輸出電壓或電流，同時(shí)測量并記錄數(shù)據(jù)，適用于不規(guī)則的電壓/電流變化測試或多段測試等。
數(shù)據(jù)可視化分析
SMM3000X系列提供了Graph、Roll和Measure結(jié)果視圖等多種視圖模式。用戶可以通過Graph視圖對數(shù)學(xué)運(yùn)算結(jié)果進(jìn)行實(shí)時(shí)曲線繪制，通過Roll視圖對測試數(shù)據(jù)的時(shí)域波形進(jìn)行顯示，通過Measure視圖獲得跡線統(tǒng)計(jì)結(jié)果。多種視圖模式提供了多維度的參數(shù)分析，用戶可更直觀地理解和分析測試數(shù)據(jù)。
高效程控
SMM3000X系列基于優(yōu)良的SCPI命令集，支持通過USB、LAN接口與計(jì)算機(jī)通信，實(shí)現(xiàn)高效便捷的遠(yuǎn)程控制。用戶既可通過網(wǎng)頁輕松操控，也可結(jié)合SCPI命令進(jìn)行深度自定義編程，滿足多樣化測試需求。此外，用戶還可利用Socket通信技術(shù)，通過TCP/IP協(xié)議與SMM3000X進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)交互，實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程測試與控制。
鼎陽SMM3312X精密源表的推出，不僅滿足了第三代半導(dǎo)體、優(yōu)良光電器件等前沿領(lǐng)域的精密測試需求，還可大幅縮短了新能源電池、高密度集成電路等產(chǎn)品的研發(fā)周期，提升測試效率和測試精度，為產(chǎn)品的研發(fā)和創(chuàng)新提供強(qiáng)有力的支持。
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